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平面类型光学元件检测平台及系统，可测量光学材料均匀性、条纹度、气泡度，光学元件面形、透过波面等多规格、高精度的光学检测指标。系统定制化需求可为各种口径的光学元件提供优质的检测服务，包括对大口径尺寸和高检测精度的特殊需求。
联系人：
王利
联系人地址：
上海市嘉定区清河路390号
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联系人邮箱：
wangl@siom.ac.cn
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